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APPH系列信號源分析儀/相噪分析儀

APPH系列是是一款功能齊全的高性能信號源分析儀（相位噪聲分析儀），其型號范圍為1 MHz至7、26或40 GHz。它提供了一組必不可少的測量功能，用于評估信號源（晶體振蕩器，VCO，發射器，鎖相環，頻率合成器等，范圍從VHF到微波頻率），以及有源和無源非自激振蕩設備，例如放大器或分頻器。其內部獨創的FPGA互相關引擎的混合信號系統架構可實現非?？焖俚男盘柼幚砗统拖辔辉肼曥`敏度。

產品型號：

主機型號	采用內部參考	采用外部參考
APPH6040	1MHz ~ 7GHz	5MHz~7GHz
APPH20G	1MHz ~ 26GHz	5MHz ~ 18GHz
APPH40G	1MHz ~ 42GHz	5MHz ~ 18GHz

主要特征：

APPH系列是一款一體式緊湊型相位噪聲測量系統，具有廣泛的功能，可在0.001 Hz至100 MHz的偏移范圍內實現低至-190 dBc/Hz的測量。

通過提供內部和外部參考選項，可以增加系統的靈活性和動態范圍。內部基準可以提供快速的測量設置和快速的測量，而外部基準可以改善系統的本底噪聲性能。

可編程的低噪聲電源和偏置調諧電壓端口可用于為DUT供電，而無需使用外部電源。

?非常易于使用，PC上的GUI軟件可直接通過LAN、USB或GPIB接口對設備進行操作

?信號輸入范圍：1MHz至7GHz/26GHz/42GHz

?極低的儀器本底噪聲（<-190dBc/Hz）

?偏移范圍：0.01Hz至100MHz

?極快的相位噪聲測量時間：10kHz至100MHz頻偏時每次互相關次數小于0.004秒

?靈活的內外部參考

?3個獨立可調諧電壓源（-5~+22V）

?內置2個獨立直流電壓源（0~15V，每個600mA）

?10MHz外參考輸入

?外觸發輸入

?緊湊、輕便、易攜帶：11kg

相位噪聲靈敏度：標準和低噪聲（選件LN）內部參考（1次互相關）

相位噪聲靈敏度：標準和低噪聲（選件LN）內部參考（100次互相關）

儀器GUI界面

主要測量功能：

?相位噪聲測量

?絕對相位噪聲、剩余相位噪聲、附加相位噪聲

?連續波、脈沖、突發測試模式

?高偏振或慢速調制

?內參考或外參考測試

?幅度噪聲測量

?絕對

?連續波和脈沖測試模式

?高偏振或慢速調制

?僅內參考

?瞬態測量

?頻率對時間

?相位對時間

?幅度對時間

?短期和長期頻率穩定度/艾倫方差測量

?1s至10天

?一鍵壓控振蕩器（VCO）特性測量

?調諧、調諧靈敏度、推壓，功率，電流，諧波和相位噪聲

?FFT分析儀（1Hz~100MHz）

?頻譜分析儀（5MHz~42GHz）

主要訂貨信息：

主機型號	描述
APPH6040	1MHz~7GHz信號源分析儀/相位噪聲分析儀主機
APPH20G	1MHz~26GHz信號源分析儀/相位噪聲分析儀主機
APPH40G	1MHz~42GHz信號源分析儀/相位噪聲分析儀主機
選件
Option LN	超低噪聲內部參考源(HW)
Option PULSE	脈沖信號相噪測量(SW)
Option BURST	突發模式信號相噪測量(SW)
Option AM	幅度噪聲測量(SW)
Option APN	附加相位噪聲測量(SW)
Option TRAN	瞬態信號分析(SW)
Option TSTAB	時間穩定度分析(SW)
Option LO	通過內部參考測量剩余相位噪聲(HW)
Option VCO	VCO特征分析(SW)
Option SPEC	頻譜分析儀(SW)

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